Interferometría de corrimiento de fase por polarización

El estudio que se presenta esta basado en técnicas interferometricas de corrimiento de fase, analizando las ventajas de usar un interferómetro de doble ventana con rejilla de fase y modulación en polarización para estudio de objetos de fase delgada, que estén estáticos y en movimiento, esto último se logra obteniendo los corrimientos de fase necesarios en una sola toma. En primera instancia se analizan las características de difracción de las rejillas de fase y los efectos que generan en los patrones de interferencia en un interferómetro de doble ventana. Los corrimientos de fase necesarios se generan operando polarizadores lineales sobre cada patrón de interferencia generado en el plano imagen del sistema.Cabe señalar que se hicieron los análisis necesarios para poder usar placas retardadoras no diseñadas para operar a la longitud de onda del laser usado. La adición de la rejilla de fase y de usar luz polarizada circularmente, nos permitió diseñar un sistema dinámico y flexible de corrimiento de fase y que además es un sistema estable mecánicamente.